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韩国艾利普所科技公司简介

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艾利普所科技公司是2000年7月成立于韩国的一家顶尖的薄膜结构分析和性能测试公司,其主要致力于薄膜的偏振分析。是由世界上著名的椭偏法专家---Kim Sang-Youl—Ajou大学的教授创立。

 

【主要产品】

Single Wavelength Ellipsometer, SWE   单波长椭偏仪

Spectroscopic Ellipsometer, SE       光谱椭偏仪

偏振器

综合性椭偏仪

分光计

探针式光谱反射计(m-FFT)

迟缓(R_in, R_th, Zero Retardation )分析设备

 

艾利普所科技不断发展和提供的光学设备能够适用于很多领域的薄膜厚度测量,比如从亚埃级到数百微米厚的薄膜,MgO 模式, OLED, LED, 太阳能电池(Solar Cell)等。

利用摩擦或光诱导技术成功地实现了定向PI层的超精密偏振测量。研制了薄膜测量系统,高铬(<百万:1)测量系统,轻轴弯曲测量系统(测量与偏光片补偿板、粘结复合板组合的多组合面板的微偏振测量器 )

通过不断的研究,艾利普所科技已成为世界上光学薄膜分析设备领先的制造商。

2020年3月2日
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